LOGO

Measurement error models /

Fuller, Wayne,

Measurement error models / Wayne Fuller. - 440 páginas. - Wiley series in probability and mathematical statistics .

0471861871


ESTADISTICA MATEMATICA
MODELOS LINEALES--ESTADISTICA

519.246

Dirección de Bibliotecas y Recursos para el Aprendizaje

Universidad de Valparaíso

Normativas

  • Blanco 951, Valparaíso, Chile.

  • 56-32-2603246

  • Política de privacidad