Modelos lineales generalizados semiparamétricos / (Registro nro. 78520)
[ vista simple ]
000 -CABECERA | |
---|---|
campo de control de longitud fija | 01695nam a2200313 i 4500 |
001 - NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | 100067998 |
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL | |
campo de control | UVAL |
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN | |
campo de control | 20240507115142.0 |
007 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FÍSICA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | ta |
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
campo de control de longitud fija | 160811s20152015chl g 000 0 spa d |
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN | |
Centro catalogador/agencia de origen | DIBRA |
Lengua de catalogación | spa |
Centro/agencia transcriptor | UVAL |
Normas de descripción | rda |
041 0# - CÓDIGO DE LENGUA | |
Código de lengua del texto/banda sonora o título independiente | spa |
084 ## - OTRO NÚMERO DE CLASIFICACIÓN | |
Número de clasificación | M |
100 0# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Quiroga González, Pablo Abraham, |
Término indicativo de función/relación | author. |
245 00 - MENCIÓN DE TÍTULO | |
Título | Modelos lineales generalizados semiparamétricos / |
Mención de responsabilidad, etc. | Pablo Abraham Quiroga González. |
264 #1 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT | |
Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright | Valparaíso, Chile : |
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante | Universidad de Valparaíso, |
Fecha de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright | 2015. |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
Extensión | 58 hojas. |
502 ## - NOTA DE TESIS | |
Nota de tesis | Ingeniero en Estadística y Grado de Licenciado en Estadística. |
520 ## - SUMARIO, ETC. | |
Sumario, etc. | En este trabajo estudiamos los modelos lineales generalizados semiparametricos, los cuales son una extensión de los modelos lineales generalizados, ya que su componente sistemática contiene una estructura parametrica (lineal) y una estructura no-parametrica (no lineal) que proporciona una mayor exibilidad en la distribución de la variable de respuesta y la relación funcional con las variables explicativas. El proceso de estimación y el análisis inferencia de los parámetros es conducido a través del método de la función de verosimilitud penalizada. Dos aplicaciones con datos reales son presentadas para ilustrar la aplicabilidad de esta clase de modelos. |
650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | ANALISIS DE REGRESION. |
650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | ESTADISTICA. |
650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Término de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | MODELOS LINEALES |
Subdivisión general | ESTADISTICA. |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA | |
Nombre de persona | Ibacache Pulgar, Germán, |
Término indicativo de función/relación | Profesor guía |
9 (RLIN) | 81371. |
710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA | |
Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada | Universidad de Valparaíso. |
Unidad subordinada | Facultad de Ciencias |
9 (RLIN) | 231296. |
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) | |
Tipo de ítem Koha | Tesis Pregrado |
Fuente del sistema de clasificación o colocación | Dewey Decimal Classification |
Estado de retiro | Estado de pérdida | Fuente del sistema de clasificación o colocación | Estado dañado | No para préstamo | Código de colección | Numero Sabini | Localización permanente | Ubicación/localización actual | Ubicación en estantería | Fecha de adquisición | Carrera | Total de préstamos | Signatura topográfica completa | Código de barras | Fecha visto por última vez | Precio válido a partir de | Tipo de ítem Koha |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Dewey Decimal Classification | Tesis | 18435 | Ciencias | Ciencias | Tesis | 17.04.2018 | Ingeniería en Estadística | M Q8m 2015 | 00178171 | 22.01.2019 | 17.04.2018 | Tesis Pregrado |