Statistical regression with measurement error / Chi-Lun Cheng and John W. Van Ness.
Tipo de material: TextoEditor: London : Arnold, 1999Descripción: 262 páginas Tipo de medio:- unmediated
- volume
- 0340614617
- 519.536
Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura topográfica | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems | |
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Libros | Ciencias General | General | 519.536 Ch518s 1999 | Disponible | 00421836 |
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