LOGO

TOMM : : test de simulación de problemas de memoria / Tom N. Tombaugh.

Por: Tipo de material: TextoTextoIdioma: Español Editor: Madrid : TEA, 2011Descripción: 94 páginas : ilustraciones + 25 formularios + Cuadernos de Estímulos ( 3 ensayos)ISBN:
  • 9788415262237
Tema(s): Clasificación CDD:
  • 152.5
Valoración
    Valoración media: 0.0 (0 votos)
Existencias
Tipo de ítem Biblioteca actual Colección Signatura topográfica Estado Fecha de vencimiento Código de barras Reserva de ítems
Libros Libros Medicina General General 153.93 T656t 2011 Disponible 00410111
Total de reservas: 0

Bibliografía: páginas 83-92.

Dirección de Bibliotecas y Recursos para el Aprendizaje

Universidad de Valparaíso

Normativas

  • Blanco 951, Valparaíso, Chile.

  • 56-32-2603246

  • Política de privacidad