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		Sensitivity analysis in linear regression. por Chatterjee, Samprit [autor.] Hadi, ali Series Wiley series in probability and mathematical statistics Tipo de material: Texto; Formato: impreso caracteres normales ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : John Wiley & Sons, 1988 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Ciencias (1)Signatura topográfica: 519.243.5 Ch495s 1988. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Measurement errors in surveys / edited by Paul Biemer. por Biemer, Paul [, editor.] Series Tipo de material: Texto; Formato: impreso caracteres normales ; Forma literaria: No es ficción Idioma: Inglés Editor: New York : John Wiley & Sons, 1991 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Ciencias (3)Signatura topográfica: 519.243.5 M484m 1991, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Probabilidad y estadística aplicadas a la ingeniería / Douglas C. Montgomery, George C. Runger. por Montgomery, Douglas C [autor.] Runger, George C [, autor.] Edición: Primera edición. Tipo de material: Texto; Formato: impreso caracteres normales ; Forma literaria: No es ficción Idioma: Español Editor: México : McGraw-Hill, 1996 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Ciencias (12)Signatura topográfica: 519.5 M788p 1996, ... Ingeniería (6)Signatura topográfica: 519.2 M788p 1996, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Linear regression analysis / George Seber. por Seber, G. A. F. (George Arthur Frederick), 1938- [autor.] Series Wiley series in probability and mathematical statistics Tipo de material: Texto; Formato: impreso caracteres normales ; Forma literaria: No es ficción Idioma: Inglés Editor: New York : John Wiley, 1977 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Digital UV (1). Ciencias (4)Signatura topográfica: 519.243 S443l 1977, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Sample survey methods and theory / Morris Hansen, William Hurwitz, William Madow. por Hansen, Morris [autor.] Hurwitz, William [, autor.] Madow, William [, autor.] Series Tipo de material: Texto; Formato: impreso caracteres normales ; Forma literaria: No es ficción Idioma: Inglés Editor: New York : John Wiley, 1953 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Ciencias (4)Signatura topográfica: 519.233 H249s 1953, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Applied regression analysis / Norman R. Draper. por Draper, Norman R [autor.] Smith, H Series Wiley series in probability and mathematical statistics Tipo de material: Texto; Formato: impreso caracteres normales ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : John Wiley, 1966 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Ciencias (1)Signatura topográfica: 519.243.5 D765a 1966. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Introductory engineering statistics / Irwin Guttman. por Guttman, Irwin [autor.] Wilks, S.S [, autor.] Series Wiley series in probability and mathematical statistics-applied Edición: Second edition. Tipo de material: Texto; Formato: impreso caracteres normales ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : John Wiley, 1971 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Ciencias (1)Signatura topográfica: 519.237 G985i 1971. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Sampling techniques / William Cochran. por Cochran, William G [autor.] Series Edición: Segunda edición. Tipo de material: Texto; Formato: impreso caracteres normales ; Forma literaria: No es ficción Idioma: Inglés Editor: New York : John Wiley, 1963 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Ciencias (1)Signatura topográfica: 519.233 C663s 1963. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Excursión a la regresión logística en ciencias de la salud / Luis Silva A. por Silva A., Luis [autor.] Tipo de material: Texto; Formato: impreso caracteres normales ; Forma literaria: No es ficción Editor: Madrid : Diaz de Santos, 1995 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Ciencias (2)Signatura topográfica: 519.536 S586e 1995, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Response surfaces : designs and analyses / André Khuri, John Cornell. por Khuri, André I [autor.] Cornell, John [, autor.] Series Edición: Segunda edición revisada. Tipo de material: Texto; Formato: impreso caracteres normales ; Forma literaria: No es ficción Idioma: Inglés Editor: New York : Marcel Dekker, 1996 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Ciencias (1)Signatura topográfica: 519.22 K45r 1996. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Robust inference. por Tiku, M [autor.] Tan, W Balakrishnan, N Series Statistics : textbooks and monographs ; v.71 Tipo de material: Texto; Formato: impreso caracteres normales ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Marcel Dekker, 1986 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Ciencias (1)Signatura topográfica: 519.244 T569r 1986. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Modern regression methods / Thomas Ryan. por Ryan, Thomas [autor.] Series Tipo de material: Texto; Formato: impreso caracteres normales ; Forma literaria: No es ficción Idioma: Inglés Editor: New York : John Wiley, 1997 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Ciencias (1)Signatura topográfica: 519.243.5 R989m 1997. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Linear models : least squares and alternatives / C. Radhakrishna Rao, Helge Toutenburg. por Rao, C. Radhakrishna [autor.] Toutenburg, Helge [, autor.] Series Springer series in statistics Tipo de material: Texto; Formato: impreso caracteres normales ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Springer, 1995 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Ciencias (1)Signatura topográfica: 519.246 R215l 1995. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Nonlinear models for repeated measurement data. por Davidian, Marie [autora.] Giltinan, David Series Monographs on statistics and applied probability ; no.62 Tipo de material: Texto; Formato: impreso caracteres normales ; Forma literaria: No es ficción Editor: London : Chapman & Hall, 1995 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Ciencias (1)Signatura topográfica: 519.76 D251n 1995. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Applied logistic regression / David Hosmer, Stanley Lemeshow. por Hosmer, David [autor.] Lemeshow, Stanley Series Tipo de material: Texto; Formato: impreso caracteres normales ; Forma literaria: No es ficción Idioma: Inglés Editor: New York : John Wiley, 1989 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Ciencias (2)Signatura topográfica: 519.243.5 H827a 1989, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)