LOGO

Statistical methods for SPC and TQM / Derek Bissell.

Por: Tipo de material: TextoTextoIdioma: Inglés Series Editor: London : Chapman & Hall, 1994Descripción: 373 páginas : ilustracionesISBN:
  • 0412394405
Tema(s): Clasificación CDD:
  • 519.2
Valoración
    Valoración media: 0.0 (0 votos)
Existencias
Tipo de ítem Biblioteca actual Colección Signatura topográfica Estado Fecha de vencimiento Código de barras Reserva de ítems
Libros Libros Ciencias General General 519.2 B623s 1994 Disponible 00010214
Total de reservas: 0

Dirección de Bibliotecas y Recursos para el Aprendizaje

Universidad de Valparaíso

Normativas

  • Blanco 951, Valparaíso, Chile.

  • 56-32-2603246

  • Política de privacidad