LOGO

Modelling and estimation of measurement errors / Michèle Neuilly.

Por: Colaborador(es): Tipo de material: TextoTextoEditor: Paris : Technique & Documentation, 1999Descripción: 694 páginasISBN:
  • 2743001720
Tema(s): Clasificación CDD:
  • 519.246
Valoración
    Valoración media: 0.0 (0 votos)
Existencias
Tipo de ítem Biblioteca actual Colección Signatura topográfica Estado Fecha de vencimiento Código de barras Reserva de ítems
Libros Libros Ciencias General General 519.246 N485m 1999 Disponible 00009276
Total de reservas: 0

Dirección de Bibliotecas y Recursos para el Aprendizaje

Universidad de Valparaíso

Normativas

  • Blanco 951, Valparaíso, Chile.

  • 56-32-2603246

  • Política de privacidad