Linear and nonlinear models for the analysis of repeated measurements / Edward F. Vonesh y Vernon M. Chichilli.
Tipo de material:
TextoIdioma: Español Series Statistics, textbooks and indexes. v 154 Editor: New York : Marcel Dekker, 1996Descripción: 560 hojasISBN: - 0824782488
- 519.5
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Libros
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Ingeniería General | General | 519.5 V946l 1996 | Disponible | 00128713 |
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