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222 0 _aCiencia UANL
245 0 0 _aCaracterización de películas delgadas de AlN fabricadas por la técnica de erosión iónica II :
_bpropiedades ópticas y cálculos teóricos /
_cManuel García Méndez ...[and others].
264 1 _a[Monterrey, Newfoundland and Labrador] :
_bUniversidad Autónoma de Nuevo León, Secretaría Académica,
_c2009.
300 _a35-41 páginas.
310 _aTrimestral
362 0 _aVol. XII, Num. 1 (Enero-Mar. 2009)-
500 _aelibro catedra 2020.
533 _aRecurso electrónico. Santa Fe, Arg.: e-libro, 2015. Disponible vía World Wide Web. El acceso puede estar limitado para las bibliotecas afiliadas a e-libro.
650 4 _aCiencia.
650 4 _aTecnología.
655 4 _aLibros electrónicos.
700 1 _aGarcía Méndez, Manuel,
_eautor
710 2 _ae-libro, Corporation.
740 0 2 _aCiencia UANL.
856 4 0 _uhttps://elibro.net/ereader/uvalparaiso/19593
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