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_223
100 1 _aEscamilla Esquivel, Adolfo,
_eauthor.
245 1 0 _aMetrología y sus aplicaciones /
_cAdolfo Escamilla Esquivel.
264 1 _aMéxico D.F. :
_bGrupo Editorial Patria,
_c2014.
300 _a1 recurso en línea (xii, 138 páginas) :
_bilustraciones, tablas.
500 _aelibro catedra 2020.
588 _aDescripción basada en recurso en línea; Título de la página del título en PDF (e-libro, visto February 04, 2015).
590 _aRecurso electrónico. Santa Fe, Arg.: e-libro, 2015. Disponible vía World Wide Web. El acceso puede estar limitado para las bibliotecas afiliadas a e-libro.
650 4 _aMedición.
650 4 _aMetrología.
655 4 _aLibros electrónicos.
797 2 _ae-libro, Corp.
856 4 0 _uhttps://elibro.net/ereader/uvalparaiso/39456
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